TraceDirector：用于表面纹理测量的新架构

TraceDirector

用于表面纹理测量的新架构

无论是粗糙度还是波纹度，单一的表面纹理测量都不能充分描述整个表面。这就是为什么Digital Metrology Solutions开发了表面纹理软件包，专门为用户可配置的多测量、车间系统所设计的。

是什么让TraceDirector独一无二?

TraceDirector体现了一种全新的表面测量体系结构。

对于许多表面测量应用来说，一条轨迹是不够的。但大多数现成的仪器一次只能处理一个数据集。这些仪器的设计都是考虑到测量的需要，而部件是引入测量系统的一部分。

TraceDirector将这个世界颠倒过来，从要度量的部分开始。一个零件可以有几个需要测量的测量位置。一个位置实际上可以有多个轨迹(例如，用于精确测量粗糙度的短而慢的轨迹和用于测量波纹度的长而快的轨迹)。此外，每个轨迹都可以使用不同的处理(如过滤和参数)进行多次分析。

易于使用的软件包提供了一个闪烁的箭头，引导操作员从一个位置到另一个位置和从一个轨迹到另一个轨迹。如果需要重新测量某个位置，只需单击该位置并重新测量即可。

进行整合

TraceDirector可以控制许多手持剖面仪，还可以添加更多的仪器。参数结果可以自动发送到您的SPC系统。